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半導(dǎo)體相關(guān)試驗(yàn)設(shè)備(冷熱沖擊試驗(yàn)箱)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)介紹

時(shí)間:2022-06-06點(diǎn)擊次數(shù):293

半導(dǎo)體應(yīng)用廣泛,相關(guān)的試驗(yàn)設(shè)備有多種,下面簡(jiǎn)單介紹下常見(jiàn)半導(dǎo)體試驗(yàn)設(shè)備的標(biāo)準(zhǔn)如下:

1.溫度循環(huán)(冷熱沖擊試驗(yàn))參考標(biāo)準(zhǔn):JESD22-A104

溫度范圍:-65~150

低溫沖擊:-40℃,-55℃,-65

高溫沖擊:65℃,85℃,125

溫度沖擊時(shí)間小于3min1min

溫度保持時(shí)間30min,60min

測(cè)試時(shí)間不能少于1000個(gè)循環(huán)


2.熱壓器/無(wú)偏壓 HAST測(cè)試 參考標(biāo)準(zhǔn):JESD22-A118

溫度范圍:100~143

濕度范圍:70%RH~100%RH

壓力范圍:0.5kg~3.5kg

測(cè)試時(shí)間不能少于200小時(shí),具體根據(jù)用戶(hù)實(shí)際要求,有些需要達(dá)到500小時(shí)到1000小時(shí)等不同時(shí)間

3.其他測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2423.1-2001  試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法,試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法,GJB 150.3-1986 高溫試驗(yàn), 低溫試驗(yàn), GB 11158《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》, IEC60068-2-14等測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),如需了解更多測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)請(qǐng)來(lái)電咨詢(xún)。


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